Soutenance de l'Habilitation à Diriger des Recherches en sciences : Sophie Cazottes

Apport de la microscopie électronique pour la caractérisation des matériaux métalliques : du MET vers le MEB

[HDR - soutenance publique en visioconférence]

Maître de conférences : Sophie Cazottes

Laboratoire INSA : MATEIS UMR-5510

Rapporteurs : 

• Mr. Sébastien ALLAIN, Professeur, Université de Lorraine Mr Xavier SAUVAGE, DR CNRS, GPM Rouen
• Mme Muriel VERON, Professeur, INPG Grenoble

Jury :

• Mme Nathalie BOZZOLO, Professeur, Ecole des Mines Paris, Sophia Antipolis
• Mr Jean-Yves BUFFIERE, Professeur, INSA Lyon
• Mr Olivier DEZELLUS, MCF, Université Lyon 1

Invité

• Mr Frédéric DANOIX, CR CNRS, GPM Rouen

Une synthèse de mes travaux de recherche portant sur les liens entre microstructure et propriétés des matériaux métalliques sera présentée. L’accent est porté sur l’apport de la caractérisation par Microscopie Electronique multi-échelle pour l’étude de la précipitation, des transformations de phases dans les aciers, ainsi que pour la compréhension des mécanismes de déformation. De plus, les développement récents de méthodes d’imagerie au MEB seront détaillées, ce qui permettra de discuter des nouvelles possibilités en termes de caractérisation microstructurales dans le domaine des matériaux métalliques.